Blog

新闻资讯

东芝推出高速导通小型光继电器,,可缩短半导体测试设备的测试时间

2025-06-20 12:00

东芝推出高速导通小型光继电器,,可缩短半导体测试设备的测试时间

      东芝电子元件及存储装置株式会社(“东芝”)宣布,,,,最新推出采用S-VSON4T[1]封装的光继电器——“TLP3414S”“TLP3431S”,,,,具有比东芝现有产品更快的导通时间[2]。。TLP3414S与TLP3431S的断态输出端电压和通态电流额定值分别为40 V/250 mA和20 V/450 mA。。。该产品于今日开始支持批量出货。。。。

     新型光继电器通过提高输入侧红外LED的光输出并优化光电探测器(光电二极管阵列)的设计,,,可实现高效的光耦合,,,将导通时间最大值缩短至150 μs。。TLP3414S的导通时间比东芝现有产品TLP3414缩短约50 %,,,TLP3431S的导通时间比东芝现有产品TLP3431缩短约62 %。。。

 

     此外,,,,当输出打开时,,这两款产品的导通电阻会影响信号衰减(TLP3414S:最大值3 Ω,,TLP3431S:最大值1.2 Ω);当输出关闭时,,,输出电容会影响高频信号泄漏(两款产品均为典型值6.5 pF)。。。新产品与东芝现有产品[2]相当,,,确保了稳定的信号传输。。。

 

     新产品适用于半导体测试设备中的引脚电子[3]应用,,,可在开关信号的同时以高精度高速测量待测设备(DUT)。。。

 

     新产品由于采用小型S-VSON4T封装,,与东芝现有产品的VSON4封装[4]相比表贴面积减少了约20 %,,有助于实现半导体测试设备和其他设备的小型化。。。

 

东芝将继续提供更多高性能产品,,,以满足半导体测试设备对更高性能和更快速度的需求。。

应用

● 半导体测试设备(高速存储器测试设备、、、、高速逻辑测试设备等)

● 探测卡

● 测量设备

特性

● 高速导通时间:tON=150 μs(最大值)

● 低导通电阻:

TLP3414S RON=3 Ω(最大值)

TLP3431S RON=1.2 Ω(最大值)

● 小型S-VSON4T封装:1.45 mm×2.0 mm(典型值),,,,厚度=1.3 mm(典型值)

主要规格

(除非另有说明,,Ta=25 °C)

注:

[1] S-VSON4T封装:1.45 mm×2.0 mm(典型值)

[2] 东芝现有产品TLP3414(额定值40 V/250 mA)和TLP3431(额定值20 V/450 mA),,,采用VSON4封装 

[3] 引脚电子(PE):用于向待测设备(DUT)提供电源和测试信号,,,,并判断DUT的输出信号的一种接口电路

[4] VSON4封装:1.45 mm×2.45 mm(典型值)

[5] TLP3414S的测试条件:RL=200 Ω、、VDD=20 V、、、IF=5 mA,,,TLP3431S:RL=200 Ω、、VDD=10 V、、、IF=5 mA

 

*本文提及的公司名称、、产品名称和服务名称可能是其各自公司的商标。。

*本文档中的产品价格和规格、、服务内容和联系方式等信息,,,,在公告之日仍为最新信息,,,但如有变更,,,恕不另行通知。。

站点地图